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韓國(guó)XRF-2000X射線膜厚儀精度及測(cè)量范圍
點(diǎn)擊次數(shù):2417 更新時(shí)間:2017-06-26

 

 

韓國(guó)XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀檢測(cè)范圍及應(yīng)用

 

 

 

單一鍍層測(cè)量

Au/Ni , Zn/Fe , Cr/Al

針對(duì)zui上層無(wú)法量測(cè)之元素

Al/Fe

zui上層的厚度極薄

Au小于0.25um

雙層鍍層測(cè)量

Au/Ni/Cu , Ag/Ni/Cu

多層測(cè)量(zui多5)

Au/Ni/Cu/Epoxy

SnXx合金

SnPb/Cu , SnBi/Cu

藥水分析

--

單層合金測(cè)量

SnPb/Cu , ZnNi/Cu

雙層合金測(cè)量

SnPb/Ni/Cu

多層合金測(cè)量(zui多五層)

SnPb/Ni/Cu/Fe

*層薄及第二層厚測(cè)量

--

 

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-20um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi 0.05-20um

SnCu 0.05-20um

 

設(shè)備功能描述

 

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線非接觸非破壞快速測(cè)量厚層

各種樣品單層至多層(5層),合金膜層均可測(cè)量

定點(diǎn)自動(dòng)定位分析

光徑對(duì)準(zhǔn)全自動(dòng)

影像重疊功能

自動(dòng)顯示測(cè)量參數(shù)

彩色區(qū)別測(cè)量數(shù)據(jù)

多重統(tǒng)計(jì)顯示視窗與報(bào)告編輯應(yīng)用2D/3D,任意位置測(cè)量控制Y軸全自動(dòng)控制雷射對(duì)焦與自動(dòng)定位系統(tǒng)

多種機(jī)型選擇X-ray運(yùn)行待命(睡眠)控制溫控穩(wěn)定延長(zhǎng)校準(zhǔn)時(shí)效全進(jìn)口美日系零件價(jià)格優(yōu)勢(shì)及快速的服務(wù)時(shí)效

 

Micro XRF-2000 韓國(guó)先鋒鍍層測(cè)厚儀系列

 

測(cè)量鍍種為:鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等

測(cè)量的厚度范圍為0.03微米~35微米。

 

可測(cè)單層、雙層、多層、合金鍍層測(cè)量,不限底料。

 

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀三型號(hào)

 

不同型號(hào)各種功能相同

機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000H型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)10cm  (長(zhǎng)寬55cm)

XRF-2000L型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm   (長(zhǎng)寬55cm)

XRF-2000PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm,PCB

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