X射線金屬鍍層測厚儀分類功能小結(jié)
點(diǎn)擊次數(shù):1053 更新時間:2018-02-09
X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層,X射線金屬鍍層測厚儀!全自動測量!
X射線金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能*,而且價錢*.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度等。
X射線金屬鍍層測厚儀分為以下三種:
1. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。
2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。
3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測。
X射線金屬鍍層測厚儀產(chǎn)品功能:
1.X射線金屬鍍層測厚儀采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。
2.采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機(jī)抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
3.Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。
4.X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
5.Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗證。
6.樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié),多點(diǎn)測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。
設(shè)計更科學(xué),軟硬件配合,機(jī)電聯(lián)動,輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。
7.軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。