分析X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理及特點(diǎn)
點(diǎn)擊次數(shù):4549 更新時(shí)間:2019-04-10
X-RAY鍍層測(cè)厚儀是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭,還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。
X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理:
鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí),測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
X-RAY鍍層測(cè)厚儀主要特點(diǎn):
1、M4 TORNADO采用了全新的技術(shù),為各種用戶提供了蕞佳的分析性能和非常方便的操控性。
2、采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡,照射光斑蕞小,空間分辨率蕞高。
3、采用無標(biāo)樣分析法定量分析塊狀樣品,分析多層膜樣品。
X-RAY鍍層測(cè)厚儀
4、使用XFlash®探測(cè)器超高速地獲取樣品圖譜,另外,使用多個(gè)探測(cè)器可以進(jìn)一步提高測(cè)量速度。
5、渦輪增速X-Y-Z樣品臺(tái),借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像,可在“飛行中”進(jìn)行元素分布分析。
6、高強(qiáng)度的X射線光管與多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡相結(jié)合,確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強(qiáng)度。采用濾光片和可以同時(shí)使用的配有不同靶材的雙光管,可以根據(jù)不同的分析要求,優(yōu)化激發(fā)光譜。
7、可抽真空的樣品室配有自動(dòng)門,大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個(gè)放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)觀察樣品,便捷進(jìn)樣功能和自動(dòng)對(duì)焦功能可以進(jìn)行快速而的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺(tái)運(yùn)行程序可實(shí)現(xiàn)重復(fù)測(cè)量。