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　　膜厚測(cè)試儀分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

 

　　膜厚測(cè)試儀是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。

 

　　膜厚測(cè)試儀使用方法說(shuō)明：

　　測(cè)定準(zhǔn)備：

　　1、確保電池正負(fù)極方向正確無(wú)誤后設(shè)定。

　　2、探頭的選擇和設(shè)定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對(duì)準(zhǔn)測(cè)定對(duì)象，在本體上進(jìn)行設(shè)定。

 

　　膜厚測(cè)試儀的測(cè)定方法：

　　1、探頭的選擇和安裝方法：確認(rèn)電源處于OFF狀態(tài)，與測(cè)定對(duì)象的質(zhì)地材質(zhì)接觸，安裝LEP-J或LHP-J。

　　2、調(diào)整：確認(rèn)測(cè)定對(duì)象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時(shí)要進(jìn)行調(diào)整。

　　3、測(cè)定：在探頭的末端加一定的負(fù)荷，即使用“一點(diǎn)接觸定壓式”。抓住與測(cè)定部接近的部分，迅速在與測(cè)定面成垂直的角度按下。下述的測(cè)定，每次都要從探頭的前端測(cè)定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續(xù)測(cè)定平面時(shí)，如果采用探頭適配器，可以更加穩(wěn)定地進(jìn)行測(cè)定。

 

　　日常維護(hù)方法：

　　1、每次工作前均應(yīng)使用酒精棉球?qū)y(cè)量頭、下跕鐵等接觸試樣的部位擦拭干凈；

　　2、測(cè)量試樣時(shí)，儀器周圍的環(huán)境務(wù)必達(dá)到要求，否則將會(huì)影響測(cè)試精度；

　　3、測(cè)試過(guò)程中，應(yīng)注意不要碰到測(cè)量頭、測(cè)量桿、跕鐵等部件，以免影響測(cè)量精度；

　　4、拿取試樣時(shí)，*使用手套，以免在試樣上留下指紋而影響測(cè)量精度；

　　5、試樣務(wù)必干凈、無(wú)折皺及其他缺陷；

　　6、測(cè)量結(jié)束后，應(yīng)注意把測(cè)量頭落到測(cè)量座上，然后再關(guān)掉電源；

　　7、嚴(yán)禁擅自拆卸測(cè)量頭，否則喪失測(cè)試精度；

　　8、避免與大功率設(shè)備同線使用。