韓國微先鋒X射線測厚儀的詳細(xì)資料:
韓國微先鋒X射線測厚儀
應(yīng)用 :
檢測電子電鍍,PCB板,五金電鍍層厚度
測量范圍根據(jù)不同鍍層0.04-35um
精度控制:
首層:±5%以內(nèi)
第二層:±8%以內(nèi)
第三層:±12%以內(nèi)
測量鍍金、鍍銀,鍍銅,鍍鎳,鍍鉻,鍍鋅,鍍錫,鍍鈀等,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。
特色 :
非破壞,非接觸式檢測分析,快速精確。
可測量高達(dá)六層的鍍層 (五層厚度 底材 ) 并可同時(shí)分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報(bào)告 。
全系列*設(shè)計(jì)樣品與光徑自動對焦系統(tǒng)。
標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。
準(zhǔn)直器口徑多種選擇,可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。
移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差 。
*2D與3D或任意位置表面量測分析。
雷射對焦,配合CCD攝取影像使用point and shot功能。
標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式,亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告 。
光學(xué)20倍影像放大功能,更能精確對位。
單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。
優(yōu)于美制儀器的設(shè)計(jì)與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的優(yōu)勢。
韓國微先鋒X射線測厚儀還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能,
其物點(diǎn)為:高分辨率,固態(tài)探測器;可分析超薄樣品
分析有害物質(zhì),元素分析分之ppm - 100%,符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;
可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;
電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>
定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;
貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);
自動過濾器,多準(zhǔn)直儀(五個準(zhǔn)直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;
性價(jià)比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm,重量:75Kg (net)
可測量樣器大?。?/span>W550mm D550mm H30mm
電鍍膜厚儀
X射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分及電鍍層膜厚
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層
韓國Micro Pioneer XRF-2000X射線鍍層測厚儀
1. H型: 密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。
2. L型: 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。
3. PCB型: 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下
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