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產(chǎn)品名稱：微先鋒X光鍍層測(cè)厚儀XRF-2020
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品報(bào)價(jià)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：微先鋒X光鍍層測(cè)厚儀XRF-2020快速無損測(cè)試鍍層膜厚測(cè)量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層
微先鋒X光鍍層測(cè)厚儀XRF-2020的詳細(xì)資料：
微先鋒X光鍍層測(cè)厚儀XRF-2020
測(cè)量原理：
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。
微先鋒XRF-2020
檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,端子連接器等產(chǎn)品電鍍層厚度
測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎘,鍍鋅.鍍鎳,鍍錫.鍍鉻,鍍鋅鎳等
可廣泛使用于電鍍生產(chǎn)企業(yè)及成品來料檢測(cè)
方便更有效控制產(chǎn)品電鍍層厚度及品質(zhì)。
可用于測(cè)量工件：PCB及五金工件、連接器端子接插件、半導(dǎo)體產(chǎn)品等各種金屬鍍層厚度。
測(cè)量時(shí)間只需要10-30秒即可獲得測(cè)量結(jié)果, 可測(cè)量直徑為0.2mm的產(chǎn)品。
測(cè)量范圍：0.03-35um;
測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量
儀器全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量
多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換
儀器全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量。
XRF-2020膜厚測(cè)試儀器操作流程
1． 儀器及附件均處開機(jī)狀態(tài)（電腦，顯示器）
2． 在程序庫中選中與產(chǎn)品對(duì)應(yīng)的曲線（產(chǎn)品需與曲線一致）
3． 打開儀器前蓋，臺(tái)面自動(dòng)伸出
4． 將樣品放入儀器臺(tái)面，測(cè)量大致位置對(duì)準(zhǔn)儀器紅外對(duì)焦點(diǎn)
5． 關(guān)閉儀器前蓋，儀器臺(tái)面自動(dòng)歸位
6． 在顯示器屏幕中用鼠標(biāo)控制儀器臺(tái)面微調(diào)，精確對(duì)準(zhǔn)測(cè)試位置
7． 點(diǎn)擊SART測(cè)試：
8． 測(cè)試過程中X-RAY指示燈亮紅，此時(shí)嚴(yán)禁打開儀器前蓋。
9． 測(cè)試時(shí)間15秒主窗口及數(shù)據(jù)表中顯示測(cè)試產(chǎn)品厚度
10． X-RAY指示燈熄滅，打開儀器前蓋，臺(tái)面自動(dòng)伸出
11． 取出樣品，完成測(cè)試
韓國XRF-2020鍍層測(cè)厚儀，電鍍膜厚儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，X熒光鍍層測(cè)厚儀，X-RAY膜厚儀
微先鋒X光鍍層測(cè)厚儀XRF-2020
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