產(chǎn)品展示
XRF-2020L測厚儀使方法膜厚測試儀功能的詳細(xì)資料:
XRF-2020L測厚儀使方法膜厚測試儀功能
Microp XRF-2020L型
H型
PCB型
1. 儀器及附件均處開機(jī)狀態(tài)(電腦,顯示器)
2. 在程序庫中選中與產(chǎn)品對應(yīng)的曲線(產(chǎn)品需與曲線一致)
3. 打開儀器前蓋,臺面自動伸出
4. 將樣品放入儀器臺面,測量大致位置對準(zhǔn)儀器紅外對焦點(diǎn)
5. 關(guān)閉儀器前蓋,儀器臺面自動歸位
6. 在顯示器屏幕中用鼠標(biāo)控制儀器臺面微調(diào),精確對準(zhǔn)測試位置
7. 點(diǎn)擊SART測試:
8. 測試過程中X-RAY指示燈亮紅,此時嚴(yán)禁打開儀器前蓋。
9. 測試時間15秒主窗口及數(shù)據(jù)表中顯示測試產(chǎn)品厚度
10. X-RAY指示燈熄滅,打開儀器前蓋,臺面自動伸出
11. 取出樣品,完成測試
韓國Microp XRF-2020測厚儀
快速無損測量
鍍金,鍍銀,鍍錫,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅鎳合金等!
儀器規(guī)格
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點(diǎn)自動測量
多個準(zhǔn)直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個或單個準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
鍍層測厚儀使用方式韓國XRF-2020膜厚儀
X-RAY膜厚儀
X射線鍍層測厚儀
韓國電鍍測厚儀
X-RAY電鍍測厚儀
微先鋒XRF-2020
韓國Micro ioneer XRF-2020測厚儀
XRF-2020L測厚儀使方法膜厚測試儀功能
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