XRF-2020L膜厚儀功能及原理的詳細資料:
XRF-2020L膜厚儀功能及原理
XRF-2020系列系統(tǒng)利用了當一個樣品被x射線輻射照射時,樣品的原子被激發(fā)的現(xiàn)象。當原子恢復到穩(wěn)定狀態(tài)時,它們會發(fā)出x射線光子。每個元素都有其不同的特征發(fā)射線。這些能量被記錄在系統(tǒng)中,并存儲于計算機。通過將獲得的光譜中的元素線與系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中列出的相應元素線進行比較,來確定給定樣本的元素。
在獲得的光譜中,元素線的強度(幅度)與其濃度或厚度有關。增加元素的濃度或厚度結果是該元素的熒光輻射特性強度的增加。通過使用經(jīng)驗或理論的物理模型,該系統(tǒng)可以提供精確的定性和定量的分析或厚度測量。
韓國MicropioneerXRF-2000/XRF-2020
功能及應用:
快速無損測量電鍍層厚度
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層
測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等!
測量范圍0.02-35um
鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀
XRF-2020測厚儀規(guī)格
XRF-2020L型:
測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:
測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
XRF-2020L膜厚儀功能及原理
原產(chǎn)地:韓國
型號:XRF-2020系列
功能及應用:
快速無損測量電鍍層厚度
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層
測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等!
測量范圍0.02-35um
鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀
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